Probe Unit


Introduction

LCD Panel의 점등 시 문제 유무 확인 하기 위한 Test Unit


Features

  • Visual 검사의 획기적 구현
  • Full Contact(COF) 적용
  • 가변 Pitch 가능
  • COF/COG 적용
  • 자사특허등록보유
  • Repair 용이한 Pin구조
  • Pitch 대응 : ≤ 15um


Specification

BLADE
( 2nd Generation )
COF(I.C)
( 3rd Generation )
MEMS FILM
( 4th Generation )
PAD ITO, IZO ITO, IZO ITO, IZO
Min. Pin Width 15㎛ (Be-Cu, Be-Ni) - 6㎛
Min. Pitch 20㎛ 30㎛ 15㎛
Delivery
New / Repeat
3wk/2wk 2wk/1.5wk 2wk/1.5wk
Pad Damage
Block Image