Introduction

TFT Array Pattern이 형성된 Glass를 투입 및 Camera를 이용하여 정밀 Align을 행한후 자동으로 투입된 Probe Unit을 각 Cell 단위로 Contact 하여 Array Pattern 불량 유무를 확인하기 위한 설비입니다.


주요 구성품

  • Glass Loader : Glass Load/Unload, Turn / 1차 Align 기능 수행
  • Stage : Glass을 Vacuum 및 Probe Unit Position으로 이송하는 장치
  • Contact : 점등 Unit 장치
  • UVW : 미세 Aligner
  • Review Camera : 불량 영상 획득 장치
  • Device Change : Option (Probe Unit Stocker)
  • Test Station : Array Pattern의 불량 유무 Inspection



Machine Key Specification

Inspection Cell Size 4.5G , ~ 6G
Probing Method Shorting Bar Type / Full Contact Type
Panel Thickness Min : 0.3mm, Max: 1.1mm (Base on single plate)
Panel Alignment Method & Accuracy UVW Stage Align (± 3㎛)
Inspection Tact Time 1.5~2.0sec(unit : Stick)
Inspection Height 1,200~2,000mm (TBD)
Pass Line 1,300~2,100mm (TBD)
Review Camera 2.5x ~ 50x (Objective Lens)
System Main Control I/PC : industrial PC
Probe Contact Shorting Bar & Full Contact Type (1 Stick Contact)
Device Change 5 Probe Unit(Stock Capa')

* 상기 Specification은 Inspection Cell Size에 따라 변경됨.